| 引用本文: | 杜晓平,李涛,陈瑞林.一起220 kV GIS 闪络故障分析及建议[J].电力系统保护与控制,2010,38(3):128-129,132.[点击复制] |
| .[J].Power System Protection and Control,2010,38(3):128-129,132[点击复制] |
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| 摘要: |
| 针对临沂供电公司的一起GIS组合电器事故，运用常规与非常规化学、电气试验手段，对GIS SF6 CT气室中闪络故障前后气体成份及CT气室内的材料进行排查试验，分析了事故原因，指出事故是由内置式CT气室内的丁腈橡胶板中的腐蚀性硫与气室内触头等镀银件反应形成硫化银，最终形成导电通道，引起CT气室闪络击穿。对此类典型故障进行了详细的分析总结，具有典型的指导意义。 |
| 关键词: 组合电器 六氟化硫 组分分析 闪络击穿 |
| DOI：10.7667/j.issn.1674-3415.2010.03.029 |
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