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| 分析了母线保护中常用的差流算法，指出当母联断路器处于检修状态时，如果母联单元有耐压试验，或者有母联单元电流互感器（CT）的测试试验时，这种算法存在一定问题。通过母线保护加装母联检修压板、修改常用的差流算法，能够解决存在的问题。通过对母联充电保护的过程分析，指出无论母联内部充电保护，还是母联外内部充电保护，都应具有瞬时闭锁母差的功能。对内部充电保护闭锁母差的判据、外部充电保护闭锁母差的方法都进行了分析，指出了常见的错误判据及错误的实现方法。根据动作时序的分析，给出了正确的判据及实现方法。 |
| 关键词: 母线保护 母联单元 差流计算 充电保护 闭锁母差 |
| DOI：10.7667/j.issn.1674-3415.2010.24.044 |
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